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公司服務 * 半導體設備測量檢測儀器製造代理
3.3
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奧創科儀有限公司

奧創科儀有限公司
網址https://angstrom.web66.com.tw
地址台北市文山區景豐街37巷8弄4號1樓
聯絡人柳俊卿
服務時間服務項目: 聚焦離子束儀(FIB) 場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) 共軛交顯微鏡(CM) X-ray螢光測厚儀(XRF) 離子束剖面研磨 (CP)
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奧創科儀有限公司主要是提供FIB,SEM,EDS,XRF,CM,CP專業的檢測及分析服務,對象涵蓋半導體、電路板、電子電機..等相關產業,協助客戶品質控管,材質分析,產品研發及異常分析製程改善服務,可即時有效解決客戶問題,是您最佳的合作夥伴。 web66

目前本公司設有FIB(聚焦式離子束儀器) 、FE-SEM(場發射式掃描式電子顯微鏡) 、EDX(能量色散X-射線光譜儀) 、Confocal Microscope(共軛交顯微鏡) 、XRF(X-ray螢光測厚儀) 、離子束剖面研磨(Cross-section Polisher /CP)..等精密儀器設備,每年都會定期保養校正,並使用可追朔至JAB Lab Accreditation(ISO/IEC 17025:2005)之標準片隨時校正儀器,可確保每一次的量測精準度給您最快速的服務
奧創科儀有限公司奧 創 科 儀 有 限 公 司
Angstrom Scientific Instrument Corp.
業務接洽 : 柳 俊 卿Jack Liou
TEL: +886(02)2933-5335
FAX: +886(02)8192-7154
行動: 0931.299.629
E-Mail: Taiwan@angstrom.com.tw
http://www.angstrom.url.tw/index.html

檢測服務項目
聚焦離子束儀(FIB)
場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)
共軛交顯微鏡(Confocal Microscope)
X-ray螢光測厚儀(XRF)
離子束剖面研磨(CP)

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