全思維設計有限公司
加入時間:2009-05-18資本額:10萬
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量測、掃描
一般尺寸量測 點、線、圓、平面、圓柱、球量測。 幾何公差量測 距離、角度、傾斜度、平
一般尺寸量測
點、線、圓、平面、圓柱、球量測。
幾何公差量測
距離、角度、傾斜度、平行度、垂直度、位置度、同心度。
特殊公差量測
偏轉度、輪廓度、最大實體狀況(客製化規劃)
3D掃描曲點量測
雷射掃瞄以非接觸方式掃描大量點群,再經由軟體於電腦上進行量測,大部份用於手機外殼等塑膠射出件的量測。
3D曲面比對
用雷射掃瞄或接觸式連續掃描大量點群,再與原始CAD圖檔作誤差比對,大部份用於3D曲面比對量測(屬非幾何性)。
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量測、掃描
一般尺寸量測點、線、圓、平面、圓柱、球量測。幾何公差量測距離
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