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首頁/凱思隆科/四點探針薄膜電性量測系統 與電性量測儀器
凱思隆科技股份有限公司KeithLink提供探針與量測軟硬體系統整合
凱思隆科技股份有限公司KeithLink提供探針與量測軟硬體系統整合
加入時間:2008-04-10資本額:360萬
瀏覽次數:511by:凱思隆科

四點探針薄膜電性量測系統 與電性量測儀器

凱思隆可提供您哪些服務?What can KeithLink do for you? 1

 凱思隆可提供您哪些服務?What can KeithLink do for you?
1.Wafer/RF/Four Point Probe Station/高頻探針 (Wafer/RF/Four Point Probe Station and Picoprobe)
2.Keithley 軟硬體整合 (量測儀器 + 量身撰寫量測程式) (Keithley Instrument, Probing and program integration service)
3.低價位電壓電流源、C-V量測儀、高壓電流源與其他 (SMU, C-V Meter, High V/I Power Sources, etc.)
4.量測代工 (Device characteristics measurement service)
5.OLED LT/LIV量測與AC-DC點亮測試系統 (OLED LT/LIV & AC-DC Driving Test System) [ KeithLink - Probingand Measurement Total Solution Provider]
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KeithLink Technology Co., Ltd. Tel: +886-2-29786535 Fax: +886-2-29782726 service@keithlink.com www.keithlink.com

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公司位置:新北市-三重區
統一編號:80295202
聯絡人:李宗霖
電話:02-29786535
手機:0930849126
服務時間:周一至周五9:00AM-6:00PM
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