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貴金屬成分分析儀

貴金屬成分分析儀

X-3600是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源,電製冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各部件的優異性能,保證了整台儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強,分辨率高,適用於各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析範圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。
 

技術參數(Technical desription)
外型尺寸:600mm×530mm×330mm
可測試樣品大小:關倉測量:220mm×200mm×150mm
        開倉測量:無限大
儀器重量:50公斤
工作環境溫度:0——35℃
工作環境相對濕度:80%
元素分析範圍:鋁(Al)——鈾(U)
含量分析範圍:1PPM——99.999%
測量時間:10——180秒可調
激發源:低功率X射線管
高壓電源:美國Spellman原裝進口高壓電源
探測器:美國Amptek原裝進口電製冷Si-Pin半導體探測器
儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優於149eV
多道分析器:2048道
軟件:基於WINDOWS的強大工作軟件
客戶可進行二次開發,自行開發任意多個分析方法
工作電源:交流 220V 50Hz
 
X-3600測金儀系統特點優勢:
  1. 基本參數法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。

  2. 包裹樣品檢測辨別系統。

  3. 樣品室高清成像定位系統,方便微小樣品定位測量。

  4. 電製冷與內部雙向循環冷卻恆溫系統相結合,維持內部工作環境穩定。

  5. 內部動力學風道設計,快速排出多餘熱量。

  6. 雙峰位快速自動校準。

  7. 雙箱體結構,抗干擾能力強且方便硬件升級。

  8. 儀器工作方法任意開發。

  9. 定量分析:包括經驗係數法,理論a係數法和基本參數法。

  10. 定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖比較法,光標自動尋峰等。

  11. 測試報表根據客戶要求獨立設計。

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