顯微測量膜厚系統

MP100-ME顯微測量膜厚系統 此套高性能MP-100-ME顯微測量膜厚系統擁有獨特的錄像展示設計，使用輕便、運用靈活，其軟體能準確的算計出樣品單,雙,三層的厚度。系統的光譜範圍可從紫外光測到紅外光，可運用在液晶顯示、ITO、濾色鏡CIE色度及彩色濾光片厚度，也能量測普通材料,如氧化物,氮化物及矽晶薄膜。