Semicon2012 新檢查系統說明
此次重點
①分割攝像軟體(畫像合成)= 可以不用考慮整體視野,而選擇鏡頭倍率。
②刪除Mapping動作= 可以縮短檢查時間
③設定Recipe等操作性大幅提升,操作簡易= 可以縮短檢查時間
補充
之後即使客戶樣品有多種,不需要做Mapping動作,能夠縮短40秒左右。分
割畫像被調整到現在使用照相機的FPS(幀速率(Frame Rate)30FPS)。攝像時
間是攝像一次(攝像範圍包括重疊(Overlap))
關於分割攝像(畫像合成)軟體
原本一定要在鏡頭視野內設定至少有一個Chip,所以視野的尺寸為優先考
量而導致檢查缺陷時會有限制,不能滿足客戶需求。各個分割的畫像能用
OKANO獨自技術來連接成完整的Chip。之後能夠直接以檢查最小缺陷尺寸為基
準,不用特意選擇鏡頭倍率。
※沒有焦點合成功能,假設鏡頭倍率太高,會發生模糊現象。
刪除Mapping動作
做Mapping動作時,需要換低倍率鏡頭,此時必須攝像整個晶圓,而做檢查
時也需要重複此動作,浪費時間。此後只需攝像一次即可做Mapping動作與檢
查。
關於操作性提升
原本檢查時,需要先做以下設定:學習,檢查領域,感度調整與判定條件
後才能做自動檢查,完成自動檢查後才能做Fine Tuning的動作。
之後只需要用Master攝像就能夠做自動檢查。此自動檢查能做基本檢查而
存取良品與不良品的畫像。
此外,結果能夠用圖表表示,圖表與畫像可以連結,可以設定圖表上的範
圍而挑出畫像,可以用跳出的畫像直接輸入到學習,感度調整與判定條件,
不需要重複做自動檢查。
以上是此次改善的內容。
OKANO 預計,之後會推出新的功能,可以簡單地做 Fine Tuning,而提高檢
查精密度與呈現性。
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