HITACHI EA1400

EA1400 (桌上型X射線螢光分析儀 Desktop XRF)

  •　 全新專利設計，高解析、高計數率SDD檢測器
  •　 綜合多種分析領域高階桌上型XRF
  •　 搭配真空系統， 全面提升元素測試感度

高靈敏度且快速分析

與以往機型相比，提高2倍以上的靈敏度。範例為黃銅中含鎘（Cd）感度分析：

　

　

高計數率新型專利SDD檢測器

使用超高計數率新型專利SDD檢測器，實現高靈敏度、高精度的快速測量

　

　

全新機構設計

不規則表面所產生的光線折射率，因全新設計的機構而降低分析所導致的誤差

　

優異的操作功能

• 多種語系（包含繁中/簡中/英文/日文/韓文）支援的操作介面
• 操作簡易，僅需三個步驟即可完成測試
• 強大的報告輸出功能，僅需一個按鈕即可完成報告生成

　　

多功能硬體結合

同步結合真空與自動進樣兩大硬體系統

　

多種環境限制用標準物質

• 標準配備RoHS標準品與儀器硬體調校試片
• 除RoHS指令的限制物件元素（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）以外，並開發製造常用標準物質，包含氯（Cl）、銻（Sb）和錫（Sn）供選購

 

基本規格

項目	規格
產地	日本
測定元素範圍	鋁（Al13）～鈾（U92），大氣環境 鈉（Na11）～鈾（U92），真空環境
樣品型態	固體、液體、粉末
X射線源	X射線管（Rh靶） 管電壓： 15 kV, 50 kV（可調式） 管電流：1mA（10~1000µA，自動調整最適電流輸出）
X射線照射方向	下方垂直照射型
檢測器	新式專利SDD矽半導體檢測器
冷卻方式	電子冷卻（不需液態氮）
準直器（分析區域）	1、3、5 mmΦ（自動切換）
樣品觀察	高解析度彩色CCD鏡頭
濾波器	5種模式（自動切換）
樣品室	304(W)×304(D)×110(H) mm
儀器尺寸	520(W)×600(D)×445(H) mm
重量	69Kg（不含電腦）
定性分析功能	■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 資料庫自動辨別比對
定量分析功能	■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規範有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 金屬電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式
標準配件	■ 桌上型電腦（含螢幕、滑鼠、鍵盤） ■ RoHS有害物質標準品（日本JAB一級認證標準品） ■ 儀器硬體確認試片（含強度、能量、解析度及X光徑） ■ 專用樣品杯 ■ 專用測試薄膜
選配	■ 轉盤型自動進樣器 ■ 多種環境限制用標準物質（無鹵、EN71-3、膜厚 、 銻Sb、錫Sn、磷P、硫S） ■ 金屬膜厚標準品
設置需求	建議桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用電源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA